TRANSFORMASI WAVELET UNTUK MENDIAGNOSIS CACAT LINTASAN DALAM (INNER RACE) BANTALAN GELINDING

Bantalan merupakan komponen mesin yang berfungsi menumpu poros agar dapat berputar dan menahan beban. Getaran yang timbul dari kerusakan bantalan dapat terjadi pada lintasan dalam dan lintasan luar. Pemantauan atau monitoring kondisi bantalan berdasarkan sinyal getaran digunakan untuk membantu mendeteksi awal kerusakan bantalan. Metode yang digunakan untuk pemrosesan data sinyal getaran adalah Transformasi Fast Fourier (FFT). Hasil data dari FFT masih banyak menimbulkan noise pada sinyal sehingga tidak terlihat harmonik pada cacat bantalan. Oleh karena itu, kekurangan tersebut dapat diatasi salah satunya dengan cara menggunakan Transformasi Wavelet (TW) . Mengunakan metode TW ini sangat cocok untuk pengujian karena digunakan untuk menekan noise pada grafik sinyal spektrum bantalan cacat lintasan dalam sehingga sinyal kerusakan dapat terlihat lebih jelas. Penelitian ini bertujuan untuk mendiagnosis cacat lintasan dalam bantalan gelinding dengan metode Transformasi Wavelet (TW) berbasis sinyal getaran.Penelitian ini dilakukan dengan cara merekam sinyal getaran dari alat uji bantalan. Perekaman sinyal dilakukan menggunakan sensor accelerometer dengan sampling rate 51200 Hz pada bantalan normal dan cacat lintasan dalam, dengan rentang waktu 10 detik. Cacat pada lintasan dalam dibuat menggunakan Electric Discharge Machine (EDM) dengan lebar 0,1 mm dan kedalaman 14 mm. Hasil pengolahan data disajikan menggunakan plot domain waktu, spektrum FFT, dan spektrum envelope berdasarkan koefisien denoise TW.Hasil menunjukkan metode Transformasi Wavelet (TW) mampu mereduksi noise, dengan mendekomposisi dua level sinyal asli menjadi sejumlah sinyal dengan metode denoise Transformasi Wavelet (TW). Hasil denoise TW kemudian diplot menggunakan spektrum envelope. Spektrum envelope mampu memperkuat sinyal cacat lintasan dalam bantalan yang tereduksi oleh denoise TW. Hasil spektrum envelope berdasarkan denoise TW level 1 menunjukkan cacat bantalan lintasan dalam dengan puncak 1xBPFI menghasilkan amplitudo sebesar 0,056 mVolt dan level 2 puncak 1xBPFI menunjukkan hasil amplitudo sebesar 0,078 mVolt. Hasil penelitian ini menunjukkan bahwa kenaikan peak amplitudo dengan menggunakan TW telah mengungkap cacat bantalan. Hasil ini menunjukkan bahwa TW dapat digunakan untuk mendeteksi cacat bantalan.